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一、低溫卷繞試驗箱概述
低溫冷彎試驗箱屬氣候模擬箱之一,適用于考核各種產(chǎn)品或材料及家用電器、儀器、儀表、元器件等電工電子產(chǎn)品,在低溫環(huán)境下的適應(yīng)性試驗,可供各種科研機(jī)構(gòu)及廠礦中心試驗室做試驗用。本試驗機(jī)適用于電線冷彎試驗,先設(shè)定試驗箱的溫度,當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定值時,取一定長的試樣放入,到試驗時間后,立即以均勻之速度繞于規(guī)定直徑之圓棒上,后取出試樣,檢視是否有龜裂、裂痕。
二、低溫卷繞試驗箱特點(diǎn)
1、獨(dú)特的平衡調(diào)溫方式,使設(shè)備具有高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。
2、工作室采用上等不銹鋼板材,試樣擱架亦采用不銹鋼元制成,耐腐蝕、易于清洗。
3、設(shè)備溫控儀具有高精度、高穩(wěn)定性,PID自調(diào)諧、LED直觀顯示,確保設(shè)備**控制。
3、設(shè)備具有超溫保護(hù)和定時功能,在定時結(jié)束或報警時,自動切斷電源使設(shè)備停止動行,確保設(shè)備和人身的**。
4、設(shè)備密封條采用硅膠材料,具有韌性好,在高低溫環(huán)境下,不易變形發(fā)粘等特點(diǎn)。
5、箱體采用不銹鋼,色調(diào)均勻,美觀大方。
三、低溫卷繞試驗箱行標(biāo)準(zhǔn)及主要技術(shù)參數(shù)
此試驗機(jī)符合GB2951.4、UL62、IEC540、VED的試驗標(biāo)準(zhǔn)。試件在特定低溫環(huán)境下,依不同棒徑卷繞,以檢查其表面是否產(chǎn)生龜裂。
溫度范圍:-40℃~RT℃
內(nèi)徑尺寸:40×50×50cm
外徑尺寸:87×100×170cm
四、 低溫卷繞試驗箱產(chǎn)品使用條件
1、 溫度:15~35℃;
2、 相對濕度:不大于85%R.H;
3、 大氣壓:86-106Mpa;
4、 電壓:AC 220V
5、 功率:5KW
6、 周圍無強(qiáng)烈振動;’
7、 無陽光直接照射或其它熱源直接輻射;
8、 周圍無強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周圍空氣強(qiáng)制流動時,氣流不應(yīng)直接吹到箱體上;
9、 周圍無強(qiáng)電磁場影響;
10、 周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì);
11、 為保證設(shè)備的正常運(yùn)轉(zhuǎn)和操作的方便,除保持設(shè)備水平安放外,設(shè)備與墻壁或器物之間應(yīng)預(yù)留一定的空間。
五、 **注意事項
1、 為保護(hù)設(shè)備和本著試驗的**,請安裝外部保護(hù)機(jī)構(gòu)。
2、 設(shè)備應(yīng)水平安裝,嚴(yán)禁傾斜放置。
3、 設(shè)備系統(tǒng)非**人員不得拆卸、維修。
4、 試驗中,除非**必要切勿打開箱蓋,否則可能會引人身傷害,系統(tǒng)誤動作。
5、 設(shè)備應(yīng)有可靠接地,以策**和保護(hù)控制系統(tǒng)有效的控制。
6、 如果設(shè)備內(nèi)放入發(fā)熱試樣時,試樣電源請用外加電源,不要直接使用設(shè)備電源。
7、 **禁止對爆炸性,可燃性及高腐蝕物質(zhì)的試驗。
8、 設(shè)備電源斷路器、超溫保護(hù)系統(tǒng)、提供設(shè)備試件、操作人員的**保護(hù)請定期檢查。
9、 詳細(xì)閱讀說明書后,方可操作本設(shè)備。
六、 低溫卷繞試驗箱使用注意事項
1、 本機(jī)工作于0℃以下時,應(yīng)避免打開箱門,否則造成箱內(nèi)蒸發(fā)器等部位產(chǎn)生結(jié)霜結(jié)水,降低本機(jī)使用效率。
2、 完成低溫運(yùn)行后,請將本機(jī)設(shè)定為60℃,進(jìn)行30分鐘干燥運(yùn)行。
3、 本機(jī)附有定時開關(guān),當(dāng)箱內(nèi)溫度達(dá)到試驗溫度后,如需定時運(yùn)行,請予打開,達(dá)到所設(shè)定的時間后,本機(jī)將自動切斷電源,并發(fā)出提示信號。
4、 試驗過程中,如打開箱門,可能會導(dǎo)致系統(tǒng)PID誤解,觸發(fā)超溫保護(hù),請予以避免。
5、 設(shè)備冷機(jī)在冷機(jī)開關(guān)打開后,進(jìn)入延時保護(hù)狀態(tài),切勿于本狀態(tài)中強(qiáng)行起動。
6、 儀表操作中請勿改變已定參數(shù)值,否則難以保證設(shè)備控制精度。
7、 本設(shè)備附有觀察窗及照明裝置,以便觀察試驗室內(nèi)試驗情況,該照明裝置僅用于觀察時使用。